HXA-4200 低本底α、β測(cè)量?jī)x采用高分辨率NaI(Tl)探測(cè)器,可定量分析礦石、建筑材料及其制品中的γ放射性和空氣、土壤中的氡氣含量,可用于無(wú)機(jī)非金屬材料如大理石、花崗巖、玻璃、陶瓷、水泥、磚瓦、砂石、混凝土及制品等放射性檢測(cè)。
產(chǎn)品詳情
產(chǎn)品概述:
采用高分辨率NaI(Tl)探測(cè)器,可定量分析礦石、建筑材料及其制品中的γ放射性和空氣、土壤中的氡氣含量,可用于無(wú)機(jī)非金屬材料如大理石、花崗巖、玻璃、陶瓷、水泥、磚瓦、砂石、混凝土及制品等放射性檢測(cè)。
應(yīng)用領(lǐng)域:
可用于無(wú)機(jī)非金屬材料如大理石、花崗巖、玻璃、陶瓷、水泥、磚瓦、砂石、混凝土及制品等放射性檢測(cè)。
產(chǎn)品特點(diǎn):
① 采用USB 標(biāo)準(zhǔn)通訊接口與計(jì)算機(jī)連接,無(wú)需驅(qū)動(dòng),即插即用;
② 使用計(jì)算對(duì)多道進(jìn)行控制和參數(shù)設(shè)置;
③ 集控制、數(shù)據(jù)采集、分析等多種功能于一體的,功能強(qiáng)大的分析軟件系統(tǒng);
④ 標(biāo)準(zhǔn)多文檔Windows 應(yīng)用程序(適用于win7~win10), 簡(jiǎn)體中文界面;
⑤ 可對(duì)點(diǎn)狀、柱狀、面狀、馬林杯樣品等多種樣品進(jìn)行監(jiān)測(cè)。
技術(shù)參數(shù):
探測(cè)器類型 |
NaI(Tl) 晶體 |
能量范圍 |
30keV~3MeV(10MeV 選配) |
能量分辨率 |
≤7.5%(@662keV,137Cs) |
MCA 道數(shù) |
1024 |
本底計(jì)數(shù) |
<7.5cps |
穩(wěn)定性 |
24h 峰漂移≤1.0%(137Cs) |
可測(cè)元素 |
Ra、Th、K、Rn、Cs、Am 等多種放射性核素,可添加 |
測(cè)量不確定度 |
<10%( 樣品放射性活度>37Bq/kg) |
測(cè)量時(shí)間 |
0~200000s 可選 |
USB 接口 |
通用串行接口聯(lián)接計(jì)算機(jī)顯示操作 |
外接接口 |
提供外接接口,支持?jǐn)?shù)據(jù)傳輸、打印 |